武漢周邊儀器/儀表信息
共找到 60 條信息-
硅基and碳化硅特性曲線測試設(shè)備
硅基and碳化硅特性曲線測試設(shè)備優(yōu)勢 高電壓、大電流 具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達3500V(最大可擴展至10kV) 具有大電流測量/輸出能力,電流高達6000A(多模塊并聯(lián)) 高精度測量 nA級漏電流, μΩ級導通電阻 0.1%精度測量 模塊化配置面議2026-02-25 -
精密電流源直流源表
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準確度提升至±0.03%面議2026-02-25 -
igbt模塊測試設(shè)備功率器件測試儀
普賽斯igbt模塊測試設(shè)備功率器件測試儀,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等)的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、μΩ級J確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如面議2026-02-25 -
半導體器件電性能測試儀表高精度數(shù)字源表
半導體器件電性能測試儀表高精度數(shù)字源表找普賽斯儀表,普賽斯數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā),對標美國2400,B2901;可實現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進行,提高測試效率;支持四象限工作,測量范圍廣,電壓高至300V,電流低至10pA;支持USB存儲,一鍵導出數(shù)據(jù)報告;5寸觸摸顯示屏面議2026-02-25 -
SMU數(shù)字源表搭建微電子教學實驗平臺
在半導體材料和器件的研究中,電性能測試是必不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導體技術(shù)的提升,微電子工藝逐漸復雜,如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業(yè)內(nèi)關(guān)注的重點。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU,為進一步打通測試融合壁壘,打造閉環(huán)解決方案,通過對半導體高面議2026-02-25 -
半導體性能檢測設(shè)備iv曲線測試儀
實施特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、率先國產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品,集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體??勺鳛楠毩⒌暮銐涸椿蚝懔髟?、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載。其高性能架構(gòu)還允許將其面議2026-02-25 -
電化學實驗循環(huán)伏安測試儀
電化學電池的三個電極是工作電極 (WE)、基準電極 (RE) 和反(或輔助)電極 (CE)。WE 和 CE 之間使用雙極性可編程電源進行電壓掃描。RE與 WE 之間的電位E使用數(shù)字電壓表測量,然后調(diào)節(jié)雙極性可編程電源輸出電壓VS,使E為希望的電位值,這時使用萬用表測量流入WE的電流I。之后面議2026-02-25 -
功率半導體參數(shù)測試儀3500V/1000A
普賽斯PMST功率半導體參數(shù)測試儀3500V/1000A,主要包括測試主機、測試線、測試夾具、電腦、上位機軟件,以及相關(guān)通訊、測試配件等構(gòu)成。整套系統(tǒng)采用普賽斯自主開發(fā)的測試主機,內(nèi)置多種規(guī)格電壓、電流、電容測量單元模塊。結(jié)合專用上位機測試軟件,可根據(jù)測試項目需要,設(shè)面議2026-02-25 -
半導體器件參數(shù)測試儀半導體參數(shù)分析儀
SPA-6100半導體器件參數(shù)測試儀半導體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿面議2026-02-25 -
半導體靜態(tài)參數(shù)測試儀+功率器件測試設(shè)備
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產(chǎn)品覆蓋半導體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案,為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段,實現(xiàn)功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2026-02-25 -
二極管反向漏電流測試國產(chǎn)源表
普賽斯二極管反向漏電流測試國產(chǎn)源表 二極管是一種使用半導體材料制作而成的單向?qū)?電性元器件,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)一般為單個PN結(jié)結(jié)構(gòu),只允許電流從單一方向流過。發(fā)展至今,已陸續(xù)發(fā)展出整流二 極管、肖特基二極管、快恢復二極管、PIN二極管、光電 二極管等,具有安全可靠等面議2026-02-25 -
PMST-3500V大功率激光器LIV測試及老化系統(tǒng)
普賽斯PMST-3500V大功率激光器LIV測試及老化系統(tǒng)是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定、面議2026-02-25 -
30A+1us脈沖源
30A+1us脈沖源的簡述: 作用: 主要應用于VCSEL激光器、大功率LED的測試 功能: 實現(xiàn)窄脈沖加電的LIV測試 特點: (1)超窄脈沖大電流電流加電,能夠滿足VCSEL的晶圓和芯片的測試需要; (2)支持脈沖光功率和器件脈沖電壓采樣功能。是LIV測試的系統(tǒng)解決方案; (3面議2026-02-25 -
半導體激光器參數(shù)測試設(shè)備激光器老化測試系統(tǒng)
普賽斯半導體激光器參數(shù)測試設(shè)備激光器老化測試系統(tǒng)是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定面議2026-02-25 -
漏電流 開短路測試 電氣特性測試數(shù)字源表
數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負載,支持四象限功能,可提供恒流測壓及恒壓測流功能,可簡化芯片電性能測試方案。 在生產(chǎn)和老化測試時,往往要求在同一時間內(nèi)完成對多個DUT的測試,或者在單個DUT上異步或者同步地運行多個測試任務。基于普賽斯C面議2026-02-25 -
8000V半導體測試高壓程控電源
高電壓源測單元具有輸出及測量電壓高(8000V)、能輸出及測量微弱電流信號(1nA)的特點。設(shè)備工作在第一象限,輸出及測量電壓0~8000V,輸出及測量電流0~40mA。支持恒壓恒流工作模式,同時支持豐富的I-V掃描模式。設(shè)備可應用于IGBT擊穿電壓測試、IGBT老化電源、防雷二極管耐壓測面議2026-02-25 -
P系列脈沖源表IV測試激光器芯片
PXOOB系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達30A,Z大輸出電壓達300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源表適用于各行各業(yè)使用者面議2026-02-25 -
高精度DC電流源精密直流源表帶脈沖
P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達30A,Z大輸出電壓達300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源表適用于各行各業(yè)使用者,特面議2026-02-25 -
半導體特性曲線儀iv+cv測試機
半導體特性曲線儀iv+cv測試機優(yōu)勢: IV、CV一鍵測;一體機,支持遠程指令控制;支持三同軸接探針臺 能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測試;詳詢18140663476 典型應用: 納米、柔性等材料特性分析; 二極管; MOSFET、BJT、晶體管、IGBT;面議2026-02-25 -
數(shù)字源表搭建MOS電容CV特性測試實驗平臺
系統(tǒng)方案 普賽斯半導體功率器件C-V測試系統(tǒng)主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)負責提供可調(diào)直流電壓偏置,通過矩陣開關(guān)加載在待測件上。 進行 C-V 測量時,通常在電容兩端施加直流偏壓,同時利用一個交流信面議2026-01-29 -
大電流電源3000A電流源
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產(chǎn)品覆蓋半導體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案,為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段,實現(xiàn)功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2026-01-15 -
功率器件CV測試系統(tǒng)+CV測試儀
系統(tǒng)方案 普賽斯功率器件CV測試系統(tǒng)+CV測試儀主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)負責提供可調(diào)直流電壓偏置,通過矩陣開關(guān)加載在待測件上。 進行 C-V 測量時,通常在電容兩端施加直流偏壓,同時利用一面議2026-01-15 -
CV測試系統(tǒng)_CV測試儀_提供0V~3500V偏壓范圍
CV測試系統(tǒng)主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)負責提供可調(diào)直流電壓偏置,通過矩陣開關(guān)加載在待測件上,內(nèi)置自動化CV測試軟件,包含C-V(電容-電壓),C-T(電容-時間),C-F(電容-頻率)等多項測試測試功能;詳面議2025-04-08 -
電流脈沖電源1μs窄脈寬
PL系列窄脈沖LV測試系統(tǒng)是為大功率激光器LV測試而研制的,大功率激光器使用直流或者寬脈沖加電時發(fā)熱嚴重,而激光器特性受溫度影響非常大,直流或?qū)捗}沖下的測試結(jié)果并不能反映器件特性。 PL系列產(chǎn)品具有輸出電流脈沖窄、輸出脈沖電流大、支持脈沖光峰值功率檢測、支持激面議2025-04-08
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