產(chǎn)學(xué)研合作-電鏡掃描sem

【FIB窗簾效應(yīng)消除技術(shù)優(yōu)勢(shì)】

窗簾效應(yīng)是FIB制樣中常見(jiàn)的圖像偽影問(wèn)題，影響TEM觀察精度。廣電計(jì)量擁有專(zhuān)利技術(shù)，通過(guò)優(yōu)化離子束掃描策略與樣品傾轉(zhuǎn)，有效消除該效應(yīng)。該方法已應(yīng)用于多種敏感材料，如有機(jī)半導(dǎo)體與鋰電電極，獲得無(wú)失真高分辨圖像。【廣電計(jì)量電鏡掃描測(cè)試】持續(xù)創(chuàng)新制樣工藝，確保每一份TEM數(shù)據(jù)的真實(shí)性與可靠性。

【半導(dǎo)體全產(chǎn)業(yè)鏈檢測(cè)服務(wù)能力】
構(gòu)建從設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓制造、封裝測(cè)試到終端應(yīng)用的全產(chǎn)業(yè)鏈檢測(cè)平臺(tái)。通過(guò)DB-FIB與TEM技術(shù)，支持芯片全過(guò)程分析與可靠性提升，覆蓋“從圖紙到產(chǎn)品”的生命周期。服務(wù)獲CNAS、CMA權(quán)威認(rèn)可，項(xiàng)目數(shù)量行業(yè)領(lǐng)先，【廣電計(jì)量SEM/TEM測(cè)試服務(wù)】成為國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體生態(tài)中不可或缺的第三方力量。

【產(chǎn)學(xué)研合作與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)貢獻(xiàn)】
積極與南京大學(xué)、上海交大等高校合作，聯(lián)合編寫(xiě)《聚焦離子束：應(yīng)用與實(shí)踐》等專(zhuān)業(yè)著作，推動(dòng)FIB技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化與普及。參與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制定，推動(dòng)設(shè)備與材料國(guó)產(chǎn)化，構(gòu)建自主可控的檢測(cè)生態(tài)?！緩V電計(jì)量電鏡掃描測(cè)試】該合作不僅提升技術(shù)深度，還強(qiáng)化了在行業(yè)中的影響力與公信力。