晶體管特性圖示儀iv+cv曲線掃描儀

晶體管特性圖示儀iv+cv曲線掃描儀優(yōu)勢(shì)：

IV、CV一鍵測(cè)；一體機(jī)，支持遠(yuǎn)程指令控制；支持三同軸接探針臺(tái)

能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測(cè)試；詳詢一八一四零六六三四七六；

產(chǎn)品特點(diǎn)：


30μV-1200V,1pA-100A寬量程測(cè)試能力；

測(cè)量精度高,全量程下可達(dá)0.03%精度；


內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測(cè)試程序，直接調(diào)用測(cè)試簡(jiǎn)便；


自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取，數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)；

在CV和IV測(cè)量之間快速切換而無(wú)需重新布線；

提供靈活的夾具定制方案，兼容性強(qiáng)；

免費(fèi)提供上位機(jī)軟件及SCPI指令集；



典型應(yīng)用：

納米、柔性等材料特性分析；


二極管；


MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；


第三代半導(dǎo)體材料/器件；


有機(jī)OFET器件；


LED、OLED、光電器件；

半導(dǎo)體電阻式等傳感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管；

電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測(cè)量；

太陽(yáng)能電池；

非易失性存儲(chǔ)設(shè)備；

失效分析；