賽譜司SciAps手持式熒光光譜儀維修 合金分析儀 X-50

賽譜司SciAps手持式熒光光譜儀維修 合金分析儀 X-50

賽普斯XRF SciAps便攜式/手持式X射線熒光光譜儀維修 不銹鋼合金分析儀維修 X-50,X-550,X-200等型號

X - 50的特點是采用PiN二級管技術，這是在SDD硅漂移探測器出現(xiàn)之前的前一代探測器。PiN技術處理的x射線比硅漂移探測器低10x - 20x。然而，對于諸如不銹鋼、高溫度、銅合金等基本的分類，或在土壤、礦石、粉末或重金屬等方面的基礎分析，PiN技術的效果是令人滿意的。

X - 50不能測量Mg,Al或Si，在某些材料中可以測量P和S在1%的水平。

X - 50配有與其他X型號相同的高性能X光管(電壓40 kV)、集成操作系統(tǒng)平臺。